嵌入式实验箱,嵌入式开发板,嵌入式ARM实验箱

-SD16 嵌入式实验箱

-SD16 嵌入式实验箱是针对C8051F 单片机（SOC）而研发的。C8051F单片机完全兼容MCS-51指令系统，运用此平台，不仅可以开展传统的MCS-51单片机教学，如指令系统、中断系统、I/0口连接口实验、外围逻辑和通信实验，也可以讲授片上系统（SOC）的概念、体系构造、设计方法、系统应用。该实验系统完成了C8051F 单片机片上的全部资源，并包括了USB 主从通信，TCP/IP以太网通信，UCOS-II 嵌入式系统移植源码。我们编写了全部功能和模型块的测量试验程序，提供了大量的实例，使学生在学会C8051F系列片上系统单片机研发方法的同时，感受到片上系统单片机在设计方法上的革新和解决的高效。

实验系统构成
（1） CPU板：CPU核心模型块应用C8051F020芯片，该芯片是C8051F系列单片机中功能最为其全的一款；包括研发环境支持Silicon Labs IDE和KEIL C系统。
（2） 片内：64K FLASH， 4K XRAM
片外拓展：256K FLASH， 32K XRAM
（3） CPU板C8051F020芯片I/0引脚全部引出，可以和用户外部电子回路连接；
（4） 实验系统带有JTAG连接口，并配备有USB高速通讯拟真器，经过4脚的JTAG连接口可以实行非侵入式、全速的在线系统调节测试、拟真；
（5） 4*4阵列式键盘；
（6） 8位逻辑电平开关输出、8位LED逻辑电平显露；
（7） 6位动态八段LED数码管；
（8） 2路单脉冲信号发生电子回路和1路8MHZ时钟发生电子回路；
（9） 时钟分频电子回路；
（10） 模仿量发生器电子回路和逻辑笔电子回路；
（11） 8*8LED点阵及驱动电子回路；
（12） 128*64 LCD液晶显露屏；
（13） 蜂鸣器电子回路；
（14） 直线DC电机测速电子回路；
（15） 四相步进电机及驱动电子回路；
（16） 继电器电子回路及连接口；
（17） 双通道RS-232 连接口；
（18） SPI 连接口，LED 数码管显露；
（19） IIC 连接口，接24C01 串行EEPROM；
（20） IIC 连接口，PCF8563日历时钟 ；
（21） 8 路12 位AD，2 路12 位DA 连接口；
（22） D12 USB 从机通信；
（23） SL811 USB 主机通信；
（24） TL8019 10M 以太网通信；
主要特别点：
1、模仿外设:
(1)逐次逼近型(SAR)12位 ADC(ADC0)
●可编程变换速率，最大100ksps
●可多达8 个外部写入；可编程为单端写入或差分写入
●可编程放大器增益：16、8、4、2、1、0.5
●数值相关窗口中断发生器
●内置温度（℃）传感器（±3°C）
(2)8 位 ADC(ADC1)
●可编程变换速率，最大500ksps
●8 个外部写入
●可编程放大器增益：4、2、1、0.5
(3)两个12 位DAC
●可以同步输出，用来产生无抖动波动线
(4)两个模仿对比器
●16个可编程回差电压（V）值
●可用来产生中断或复位
(5)电压（V）基准
●内部基准（2.4V）
(6)精确的VDD 监视器和欠压检验测试器
●可经过MONEN引脚允许或禁止。
2、片内JTAG 调节测试和边界扫描
●片内调节测试电子回路提供全速、非侵入式的在系统调节测试
●支持断点、单步、查看点、堆栈监视器；可以查看/修改存储器和寄存器
●符合IEEE1149.1 边界扫描标准
3、高速8051 微控制器内核
●流水线指令构造；70%的指令的执行时间为一个或两个系统时钟周期
●速度可达25MIPS（时钟频率为25MHz 时）
●22 个矢量中断源
4、存储器
●4352 字节内部数值RAM（4K + 256）
●64K 字节FLASH 存储器；可以在系统编程，扇区大小为512 字节
●外部64K 字节数值存储器连接口（可编程为复用方法或非复用方法）
5、数字外设
●8 个字节宽的端口I/O（C8051F020）全部口线均耐5V 电压（V）
●可同时使用的硬件SMBus(I2CTM 兼容)、SPITM及两个UART 串行口
●可编程的16 位计数器/定时器阵列，有5个捕捉/对比模型块
●5 个通用16 位计数器/定时器
●专用的看门狗（WDT）定时器；
6、时钟源
●内部可编程振荡器：2-16MHz
●外部振荡器：晶体、RC、C、或外部时钟
●就地实时时钟(RTC)方法（用定时器3 或PCA）；
7、供电电压（V）（2.7V - 3.6V）
●经典型作业电流（A）：10mA @ 20MHz
●多种节电休眠和停机方法

实验项目
内部功能试验
(1)程序看门狗(WDT) 实验；
(2)计数器实验；
(3)定时器实验；
(4)数字I/O端口实验；
(5)内部数字功能模型块实验；
(6)内部时钟选用实验；
(7)外部时钟选用实验；
(8)可编程计数器/定时器实验；
(9)片内的外扩数值存储器实验；
(10)模数变换（ADC）实验；
(11)数模变换（DAC）实验；
(12)电压（V）对比器实验；
(13)中断控制实验；
(14)温度（℃）传感器实验
(15)UCOS-II 嵌入式系统移植；
外部硬件试验
(16)P1口亮灯实验；
(17)P1口转弯灯实验；
(18)P3.3口写入，P1口输出；
(19)继电器控制实验；
(20)小直线DC电机测速实验；
(21)四相步进电机控制实验；
(22)4*4键盘显露实验；
(23)6位动态LED数码管显露实验；
(24)8*8 LED点阵显露实验；
(25) 128*64 LCD液晶显露实验 ；
(26)Flash ROM 外部程序存储器实验；
(27) SRAM外部数值存储器实验；
(28)RS3232串行口通讯实验；
(29)SPI 总线连接口实验；
(30)电子音响实验
(31)IIC 连接口， AT24C02读写实验；
(32) IIC连接口，PCF8563日历时钟实验；
(33) D12 USB 从机通信实验；
(33)SL811 USB 主机通信实验；
(34)RTL8019 10M 以太网通信实验；